熔体包裹体分析技术的发展如何？
发布时间：2014-03-30
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单个熔体包裹体LA-ICP-MS原位分析技术的发展和完善，避免了传统熔体包裹体成分分析技术需加热均一化、样品制备繁琐等缺点，可直接对成分复杂矿 物 表面100μm以下以多相形式存在的熔体包裹体进行整体分析，数据精确度可与电子探针分析和二次离子质谱相媲美，增加了样品中可分析熔体包裹体数量， 更全面地反映岩浆演化信息，省时、高效、准确，极大地推动了熔体包裹体研究的发展。
近年来，国内外单个熔体包裹体LA-ICP-MS原位分析技术应用于地质学 和矿床学领域，在地球深部岩浆过程及岩浆热液矿床成矿理论等方面取得了重要成 果。随着激光、质谱等设备的发展及定量方法完善，单个熔体包裹体LA- ICP-MS分析的准确性将进一步提高，同时单个熔体包裹体同位素原位分析技术的 发展和应用将再次为熔体包裹体研究带来革命性进展。
